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使用Zeta電位測量儀測量晶圓表面帶電性和其等電位點固體表面的純淨度對許多產品的生產過程中十分重要，例如晶圓(Wafer)，晶圓表面的顆粒污染將導致產品良率急劇下降，而對於顆粒吸附的能力來說，晶圓的帶電性便是一項重要的指標，其決定了顆粒吸附能力的差異。
以動態圖像分析法測量磨料的粒徑和形狀參數 -儀器型號: CAMSIZER X2-磨料是指能用於切削、研磨和拋光的材料，可用來製作刀具和磨具，這些材料通常為質地堅硬礦物，而這些磨料自然便會被研磨工具廣泛利用，像是紙張或是砂輪片，這些磨料的粒徑範圍從幾微米到毫米均有，可分為微磨粒（約 < 50 μm）和大磨粒砂礫（約 > 50 μm）。 研磨材料包括碳化矽、剛玉、碳化硼、立方氮化硼 (CBN)、石英、石榴石等其他幾種陶瓷材料，有些材料存在於自然界中，但其中大部分是當今工業生產的，經化學後合成，磨粒進一步加工以減小尺寸並篩選，目的是獲得非常窄的粒徑分佈，如此一來可保證了研磨工具能產生均勻的磨度，而不會留下刮痕或其他損壞。FEPA（歐洲）、ANSI（美國）、JIS（日本）等國際標準均規定了工業中使用的磨料分類，該標準甚至還規定了粒徑分析方法，例如篩網分析法(sieve analysis)和沉降法。
如何利用比表面積與密度分析數據改善固態電池之固體電解質的離子導電度近年來對於固體電池的開發重心開始轉移到如何有效提升其能量輸出密度並與此同時確保其安全性，其中構成固體電解質（氧化物/硫化物）的顆粒的小尺寸（大比表面積）和高密度（無孔）對於提高離子導電率非常重要。同時，由於每種固體電解質在暴露於環境空氣時都存在碳酸鹽沉澱和硫化氫釋放的風險，不符合實際應用情形，因此有必要對未暴露於環境空氣時的比表面積和密度進行評估。
蛋白質藥物的矽油顆粒監控為何重要?近年來對於固體電池的開發重心開始轉移到如何有效提升其能量輸出密度並與此同時確保其安全性，其中構成固體電解質（氧化物/硫化物）的顆粒的小尺寸（大比表面積）和高密度（無孔）對於提高離子導電率非常重要。同時，由於每種固體電解質在暴露於環境空氣時都存在碳酸鹽沉澱和硫化氫釋放的風險，不符合實際應用情形，因此有必要對未暴露於環境空氣時的比表面積和密度進行評估。
隱形眼鏡的濕潤性量測隱形眼鏡是現代人使用於克服視力問題的重要工具，因此確保隱形眼鏡的安全性、配戴舒適度及能見度的表現對於製造商來說十分重要，在評估隱形眼鏡的濕潤性對於設計及控制其十分重要，因為濕潤性決定了隱形眼鏡和眼睛間形成的淚膜(tear film layer)穩定度，進而影響配戴時的舒適度。
