使用動態光散射法(DLS)進行粒徑分析

動態光散射 (DLS) 是一種成熟且精確的測量技術，用於表徵懸浮液和乳液中的粒徑，動態光散射 (DLS)基於顆粒的布朗運動——這意指較小的粒子移動得更快，而較大的粒子在液體中移動得更慢，顆粒散射的光包含有關擴散速度的訊息，因而可分析粒徑分佈的訊息。
動態光散射(DLS)能夠分析粒徑範圍為 0.3 nm 至 10000 nm 的顆粒，雷射光繞射法(LD)信號較弱且散射信號的角度變化較小，對於小於 100 nm 的顆粒通常會達到其極限，而這正是動態光散射的優勢所在。
動態光散射 (DLS)適用於分析和表徵奈米顆粒的技術，其他優勢包括高濃度和高稀釋樣品的測量，以及確定 Zeta 電位、分子量和濃度的能力，這是許多動態光散射 (DLS)分析儀都具備的功能。

 
獨特的探頭技術

Microtrac 採用了創新的動態光散射 (DLS) 方法，使用專有的探頭設計來傳遞和收集光，通過將雷射光探頭聚焦在材料界面上，Microtrac 將短路徑長度與參考跳動和 180° 反向散射的優勢相結合，提供高準確度、解析度和靈敏度的分析結果。
參考跳動技術
最低濃度下最強的光信號和準確度：所有動態光散射測量都使用一種「拍打」形式從散射光中去除高光頻率，留下顆粒運動引起的粒徑分析所需的較低頻率，Microtrac 的外差檢測原理使用探頭收集與入射光混合的 180° 反向散射光。
組件的幾何形狀使光能夠從界面反射並將其與收集的散射光結合。反射光使參考跳動成為可能，總光信號被反射分量的高強度放大，促使較高的光信號能在較低的濃度下提供準確的測量，具有參考跳動的外差測量原理同時支持測量熒光顆粒的大小。
180º 後向散射和 GRIN 透鏡聚焦在最高濃度下的精度
用於動態光散射分析儀的 Microtrac 探頭將雷射光聚焦在探頭和顆粒懸浮液之間的界面處，光穿透懸浮液並與遇到的顆粒和 180° 反向散射光一起發生散射，與入射光混合後返回光電探測器，總路徑長度最小化，而收集的散射光最大化，這造就高濃度樣品中亦能獲得準確測量結果。
 
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