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委測服務項目

7 days

7個工作天完成分析

24YRS

20年以上分析測試經驗

17types

17 種分析相關機台 

Freeze drying
冷凍乾燥處理

填寫委測需求
  • 高度真空的狀態讓物品升溫直接昇華凍結在冷凝器之上，達到乾燥的目的
  • -55度、-85 度 與 -105 度 三種溫度提供加熱板加快昇華速度
  • 歧管式與棚板式兩種機型
  • 專利無線加熱板技術，僅需過去⅓ 時間

Flowcam​
微米等級顆粒影像分析

填寫委測需求
  • 可測得包含粒徑在內等其他顆粒參數
  • 可計算顆粒濃度(particles/ml)
  • 拍攝範圍: 2-300um，提供數種參數報告(每個參數可在以D值或是max, min, mean值表現)
  • 可依照特定形狀參數排列顆粒影像輸出

Malvern
靜態顆粒影像分析(微米)​

來電洽詢
  • 可針對乾粉也可針對分散完成的液體樣品
  • 考量乾式和溼式樣品不同，請直接電話諮詢

Microtrac MRB
顆粒zeta 電位測量

填寫委測需求
  • 報告中有提供樣品的導電度等資訊
  • 樣品不會通以外加電場(可以回收)
  • 可以提供酸鹼溶液進行滴定實驗，找出如等電位點等材料關鍵參數(請聯繫進行詳細討論)

Microtrac MRB​
微米等級粒徑量測​

填寫委測需求
  • 量測範圍: 0.01-4000um，提供粒徑分佈圖 D10/D50/D90/D(X)等數據
  • 可提供大於4.5um顆粒的拍攝影像
  • 拍攝影像可依照指定形狀參數排列(circularity, aspect ratio, convexity….)
  • 可額外輸出影像報告，並依照希望的形狀參數對顆粒排列輸出

Microtrac MRB
奈米等級粒徑測量

填寫委測需求
  • 量測範圍: 0.3nm~10μm粒徑分析範圍
  • 樣品最少僅一滴(2uL)便可以完成量測

dataphysics
接觸角&液體表面張力​測量

填寫委測需求
  • 靜態接觸角測量，另可輸出實驗當下的液滴照片
  • 可以needle in drop的方法分析前進角、後退角及滯後角等動態接觸角參數
  • 具備液體表面張力推算功能

dataphysics
分散穩定性分析

填寫委測需求
  • 可提供沉降速率等參數
  • 非破壞性測量(如有需求可回收樣品)
  • 可推算粒徑(需要提供顆粒比重及環境黏度等資訊)

dataphysics
固體表面Zeta電位測量

填寫委測需求
  • 樣品形式彈性，例如：膜狀、棉絮狀
  • 目前僅執行水相實驗

Rheosense
微量低黏度分析

填寫委測需求
  • 最低用量僅需 100 uL (2mL為保險值)
  • 密閉系統，適合用於揮發性溶劑
  • 輕易獲得高剪切速率下剪切黏度

NanoFCM
流動奈米分析

填寫委測需求
  • 高通量測量，每分鐘可分析10000顆顆粒
  • 粒徑最低可分析小至24nm的SiO2顆粒或是7nm的金奈米顆粒，視材料折射度而定，生物類樣品如外泌體折射度接近於SiO2
  • 高螢光靈敏度，最低可偵測1分子PE(phycoerythrin)的螢光訊號，對於表現量較少的表面蛋白有更好的偵測強度
  • 實現單一顆粒的共定位量測，選擇兩種螢光波段的情況，可以辨別同一顆顆粒是否同時表現兩種表面蛋白

Netzsch Kinexus
黏彈性分析

填寫委測需求
  • 典型黏度測量
  • 典型黏彈性分析，分析如彈性模量(G’)、黏性磨模量(G’’)及相位角(Phase angle)等參數

Rudolph
密度分析

填寫委測需求
  • 智慧型數位密度分析儀
  • 量測範圍達0-3g/cm3 (單位可轉換)
  • 溫控範圍達0-100度C(+/-0.05度C或更低)
  • 量測體積<1mL
  • 精準度達+/-0.00005 g/cm3
  • 符合ASTM/ISO/USP/EP/JP量測規範

Rudolph
旋光儀

填寫委測需求
  • 雙波長自動校正旋光儀(NVLAP認證石英標準品確校)
  • 589/546nm波長可選(100mm cell)
  • 石英上樣槽可耐6M HCL，樣本體積小於2mL
  • 溫控15-35度C (+/-0.3度C或更低)
  • 符合USP/EP/BP/JP量測規範
  • 可輸出Optical/Specific Rotation/量測溫度/時間/波長等數據

Rudolph
折射計

填寫委測需求
  • 自動折射(曲光)/糖度量測功能
  • 量測範圍(1.3-1.7)精度達+/-0.0001
  • 單次量測/連續量測功能
  • 溫控10*-65度C
  • 樣本所需體積<1ml
  • 符合USP/EP/JP/ASTM量測規範

 

 

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