儀器教室 Instrument Stories

動態光散射（DLS）是一種強大且靈敏的分析技術，可表徵分散液中的顆粒或大分子，因為它具有分辨從亞奈米到微米等級的顆粒大小的能力，這種特性還意味著DLS是表徵聚集材料的重要技術，聚集材料可能在總體數量佔比極低，但在許多應用中具有關鍵的意義。 然而，在大多數的情況下，灰塵的存在（例如過濾器殘渣、色譜柱脫落、示踪劑的聚集物或實驗室器材的汙垢）會對較小尺寸顆粒的測量產生不利影響，但，事實上，是有降低這些影響的演算法。 Malvern Panalytical運用了多年累積的數據及分析經驗，提出了一種處理DLS數據的新方法，該方法可以防止小顆粒數據傾斜，同時保留對可能會丟失的聚集體存在的了解，從而可以推斷出顆粒相對的多寡和大小。

纖維顆粒的分析是一個值得探討的議題，基於雷射光繞射法、Coulter Counters等方法，僅能在假設測量顆粒為球形的情況下給予粒徑值(等效球體粒徑)，而對於纖維狀樣品則無法給予其長寬等其他參數（見圖一），因此，流式顯微鏡已成為主要用於測量長度和寬度的纖維特性的方法。流式成像顯微鏡的存在有可能避免人為判定因素得到較為客觀的纖維顆粒長寬參數，圖二展示了關於FlowCam在工業上的纖維分析的結果

Malvern Panalytical Epsilon 1(XRF)具有出色的篩選食品中二氧化鈦存在的能力。矽漂移檢測器的高分辨率和靈敏度與功能強大的軟件相結合，使每個樣品在一分鐘內快速檢測和定量鈦成為可能。

本篇文章中證明了Zetasizer Ultra可用於確定Pluronic界面活性劑的臨界膠束化溫度(CMT)。與以前的光散射研究相比，Zetasizer Ultra可以顯著減少測量時間並簡化實驗過程，同時它也不需要大量的樣品過濾和較長的數據收集時間。此外，MADLS測量結果能夠獲得更高分辨率的粒徑分佈圖，從而更好地監控為微胞和單體之間的形成過程。

金屬粉末的粒徑分佈是必不可少的且必須定義清楚之參數，必須對其進行監控，以確保物料批次在規格範圍內，並且可以提供必要資訊來反映最終產品性能。雷射光繞射法，不論是在乾式或溼式分散體系，均可以十分快速且即時反應測量當下的粒徑分布，可以得到同一樣品以兩種測量法測量出來相比較的結果，並用以驗證粒徑實際分布狀況。

奈米粒子追蹤分析（NTA）技術可用於檢測和分析這些相對來說濃度較低的極小尺寸顆粒，且在一次的分析中我們便可以得到樣品的平均粒徑、粒徑分布圖及顆粒濃度。 NTA是一種眼見為憑的粒徑分析方法，通過簡易且少量的樣品準備，能夠將粒徑範圍在10nm-2000nm的奈米顆粒粒徑量測直接在您的眼前進行，便可以為您的奈米氣泡後續應用提供豐沛的數據參考應用，而馬爾文儀器公司（Malvern Instruments）的NanoSight NS300率先採用了該技術，並期望能成為各位客戶在研究路上的第一首選。 在經過了許多研究人員的努力後，如何去製備奈米氣泡的技術以致臻成熟。然而還是有許多對它們的實際存在提出懷疑的聲浪，因應產生的需求便是如何去證明溶液中確實具有大量的奈米氣泡。 根據千葉兼夫（Kaneo Chiba）和高橋正芳（Masayoshi Takahashi）的研究，在存在電解質的情況下，加上正確的物理刺激，便可以從常規微泡中產生穩定的奈米氣泡[1]。後者傾向於聚結成較大的浮力氣泡，這些氣泡理論上會因為強烈的表面張力下漂浮向上直至消失。然而，鹽或說電解質的添加被認為會在奈米氣泡的周圍形成抗衡離子屏蔽(counter-ion screen)，從而有效地阻止內部的氣體擴散出去。