Malvern Zetasizer Ultra 奈米粒徑、電位、濃度分析儀

動態光散射法(DLS)用於測量粒徑及分子大小, 多角動態光散射法 (MADLS),可提供最高解析度、不受角度影響的粒徑分佈分析。
電泳光散射法 (ELS)用於測量Zeta電位,使用專利型雷射相干技術 M3-PALS(相位分析光散射法)檢測其速率。 這樣即可計算電泳遷移率,並得出樣品的Zeta電位及Zeta電位分佈。
MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響。
3uL粒徑測量樣品池套件,由於它可以抑制對流,所以既能測量小到的粒徑,也能測量 DLS 的上限粒徑範圍。
詳細介紹

全新 Zetasizer Ultra 是用於執行顆粒與分子粒徑、顆粒電荷和顆粒濃度的最先進系統,是整個 Zetasizer 系列中最智慧、靈活度最高的儀器。 
這一旗艦型儀器充分利用了 ZS Xplorer 軟體的易用性、分析速度和資料可靠性等優勢,並且提供了兩種獨特的測量功能:多角動態光散射 (MADLS®) 和顆粒濃度,從而幫助您更深入地瞭解樣品。

Zetasizer Ultra 綜合了全球功能最強大的 DLS 與 ELS 系統,它採用了非侵入背散射 (NIBS®) 和獨特的多角動態光散射 (MADLS) 技術來測量顆粒與分子粒徑。 NIBS 的多用性和靈敏度可測量廣泛的濃度範圍,而 MADLS 則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地瞭解樣品粒徑分佈。

MADLS 的擴展能夠直接分析顆粒濃度。 顆粒濃度的測量無需校準,適合於廣泛的材料,無需或只需極少稀釋,並且使用快捷,這一切都使其成為一種理想的篩選技術。  這是 Zetasizer Ultra 的一項獨特功能,甚至可以運用於以前非常難測量的病毒和 VLP 等樣品。 

Zetasizer Ultra 還利用 M3-PALS 技術提供了靈敏度最高的Zeta電位和電泳遷移率測量。  我們具有極高性價比的一次性折疊毛細管樣品池允許使用我們的專利擴散障礙法在極低樣品量的情況下進行測量,並且不會產生直接樣品電極接觸。  此類測量提供的資訊可以極好地指出樣品穩定性以及/或者聚集傾向。
增加的恒電流模式可在高導電性介質中測量電泳遷移率和Zeta電位,從而減少由於較高離子濃度下的電極極化而出現的錯誤。

Zetasizer Ultra 在一種緊湊型裝置中包含了兩種技術,並且擁有一系列選件及附件,以便優化並簡化不同樣品類型的測量。

動態光散射法(DLS): 用於測量粒徑及分子大小:

LS 可測量作布郎運動顆粒的擴散情況,並採用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉化為顆粒粒徑與粒徑分佈。 使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技術可在最廣泛的粒徑及濃度範圍內實現最高的靈敏度。 DLS 是一種靈活性極高的顆粒測量方法,具有快速、準確、可重複的特點。 它只需要少量的樣品即可完成分析,並且可做到無損。 這種技術不考慮材料因素,因此具有極廣泛的適用性。

Zetasizer Ultra 還採用了多角動態光散射法 (MADLS),可提供最高解析度、不受角度影響的粒徑分佈分析。 MADLS 還允許在均質樣品類型中對顆粒濃度進行簡單且無需校準的測量,這一應用可涵蓋廣泛材料。

電泳光散射法 (ELS)用於測量Zeta電位:

分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動,其運動速度與電荷直接相關 使用專利型雷射相干技術 M3-PALS(相位分析光散射法)檢測其速率。 這樣即可計算電泳遷移率,並得出樣品的Zeta電位及Zeta電位分佈。

ELS 的運用一般關係到穩定性和配方應用。 不帶淨電荷的顆粒或分子可能會聚集在一起,可能會是系統遇到的一種困難(例如可能是附聚物的配方)。 不帶電荷的顆粒或分子將更好地彼此保持距離,從而形成穩定的系統。 包含這些顆粒或分子的配方極易受其電荷態的影響,對 pH 值、添加劑濃度和離子濃度等配方屬性的變更可能會影響產品穩定性和儲存期。

ZS Xplorer 軟體套件:

該軟體的設計非常簡單易用,即使是在複雜方法的快速構建中也同樣如此。 關於要測量的樣品、其條件以及變數的資訊在運行開始時輸入,並且 ZS Xplorer 將根據這些資訊對用於該樣品的方法進行智慧優化。 由深度學習支援的資料品質指導系統可提供關於結果的回饋,並針對如何對資料進行必要的改進提出清晰的建議。

配件模組:

MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響。

一系列一次性和可重複使用的樣品池可優化測量不同樣品體積和濃度,包括新的低量一次性粒徑測量樣品池套件,由於它可以抑制對流,所以既能測量小到 3uL 的粒徑,也能測量 DLS 的上限粒徑範圍

測量參數:

顆粒和分子尺寸及分佈、濃度、聚集指標、擴散係數、電泳遷移率、zeta 電位等資訊。