快速了解粒徑分析!該如何挑選粒徑分析儀?
1.為什麼要做粒徑分析?
粒徑分析是一種用於測量物體中顆粒大小分佈的技術,此外,一個材料的均勻程度也能夠透過粒徑分析的結果來表示。相同材料在不同粒徑下可能會呈現不同品質與性能,而這對於對產品有至關重要的影響。因此,透過粒徑分析儀精準地測量顆粒大小,將有助於深入了解產品的特性。
粒徑分析測量技術說明
雷射光繞射法(Laser Diffraction):現今最常使用的粒徑分析技術,透過測量顆粒對雷射光光束的散射情況,從而推算顆粒大小分佈,適用於液體和固體樣品。
(圖一)雷射光繞射法示意圖
動態圖像分析法(Dynamic Image Analysis):此技術利用快速擷取的影像,持續捕捉通過量測區域的顆粒影像,可進行顆粒的形狀分析,更深入的了解樣品特性。
(圖二)動態圖像分析法示意圖
動態光散射法(Dynamic Light Scattering,DLS):用於分析奈米顆粒的的技術,分析方法基於奈米顆粒於液體中的布朗運動,即較小的顆粒在液體中移動得更快,較大的顆粒則越慢。
(圖三)動態光散射法分析法示意圖
2.有哪些產業需要運用粒徑分析?
粒徑分析儀能夠滿足各產業的應用領域,經常為不可或缺的關鍵因素,以下將透過實際案例,探討各個產業中的粒徑分析應用,進而說明其重要性:
3.如何挑選粒徑分析儀?
選擇合適的粒徑分析儀需要考量多方面的因素,包括顆粒大小範圍、測量準確度以及量測技術等,應根據您的應用需求進行判斷,以下將介紹 Microtrac MRB 奈米及微米粒徑分析儀之間的差異,以協助您挑選:
Microtrac MRB 是由 RETSCH Technology、Microtrac 與 MicrotracBEL 聯合成立之品牌,於顆粒性質分析領域佔領導地位,為客戶之首要選擇。產品結合雷射光繞射、動態光散射及動/靜態圖像分析技術,分析結果具高精確度,且能快速取得量測結果,提供客戶完整且高規格的解決方案。
型號 | SYNC | NATOTRAC FLEX | CAMSIZER X2 |
示意圖 | | ||
測量範圍 | 微米(0.1µm - 4000µm) | 奈米(0.3nm - 10µm) | 微米 (0.8µm - 8mm) |
測量技術 | 雷射光繞射法 動態圖像分析法 |
動態光散射法(DLS) | 動態圖像分析法 |
產品特色 |
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