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活動內容
掌握穩定性分析關鍵，透過整合Zeta電位、粒徑分析優化產品配方以及預測生命週期！
在配方開發與品質控管過程中，單一分析技術往往難以完整呈現樣品特性。透過結合產品的穩定性分析、Zeta 電位分析與奈米粒徑分析等關鍵技術，不僅能更全面掌握粒子系統的行為，更能有效提升配方評估效率，為研發與品管工作帶來更精準的判斷依據。
本次研討會將以膠穩定性分析為核心，同時介紹粒徑、Zeta 電位與穩定性分析技術的原理，以多種分析設備整合應用所帶來的優勢，協助您從多面向理解樣品特性，發掘更適合的分析策略與實驗室解決方案。
此外，現場也將透過實際應用案例分享與設備展示，帶領您了解 MICROTRAC 先進分析技術如何應用於真實樣品分析流程，探索多樣設備搭配的可能性，進一步提升實驗效率與分析品質。
★ 本次研討會中，您將能學習到：
- 膠穩定性分析、Zeta 電位分析與奈米粒徑分析的核心原理
- 不同分析技術在樣品評估中的應用方式
- 多項分析設備整合應用的優勢與策略
- 多元產業中的實際應用案例分享
- 設備現場展示與操作解析
活動辦法
- 時間：2026年5月20日 14:00 - 16:00
- 地點：台灣大昌華嘉 台北總部
- 費用：全程免費
- 活動名額：20名，額滿為止
- 報名方式：完成下方報名表單，即完成報名
- 聯絡窗口：Tel：(02) 8752-7744 劉小姐