作為雷射散射技術研究的先行者，經過近半個世紀的不斷探索，開發出一代又一代先進的
雷射粒徑分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以革新的技術，拓展測試下限至0.01μm
它採用現代模塊式設計，內置高能量，高穩定性，超長壽命的固體二級管激光器，對非球形
顆粒的米氏理論修正，保證每一次樣品分析的測量精度。

Microtrac S3500系列產品

藍波2型(BWDL))：濕法測量範圍：0.01-2,800μm；

藍波1型(BWSL))：濕法測量範圍：0.01-2,000μm；

增強型(Enhanced)：濕法測量範圍：0.02-2,800μm；

擴展型(eXtended)：濕法測量範圍：0.02-2,000μm；

特殊型(speciaL)：濕法測量範圍：0.09-1,500μm；

標準型(Standard)：濕法測量範圍：0.25-1,500μm；

高端型(High)：濕法測量範圍：2.75-2,800μm；

基本型(Basic)：濕法測量範圍：0.70-1,000μm；

* 歡迎定制更寬的測量範圍

主要特點：

• Tri-Laser激光系統, 完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分佈“連接點”的影響和
   多次米氏理論（Mie Theory）數學處理的誤差（米氏理論處理與波長有關）

• “Bluewave”激光技術，拓展測量下限至0.01μm

• 無需掃描，同步接受全量程散射光信號，保證分析結果的高重現性及全量程範圍的高分辨率

• 引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子，內置常用分析物質光學數據庫，
   提高顆粒粒度分佈測試的準確性

• 系統自動對光，內置輔助光源用於檢驗和校正檢測器的靈敏度

• 多種樣品分散系統可供選擇，各種分散系統之間的轉換簡單方便，結果穩定一致

• 現代模塊式設計，可根據實際應用需要允許選擇儀器的配置，以滿足將來的任何需要

• 數據處理靈活方便，體積分佈，數量分佈和強度分佈，微分與累計百分比以及
   其他綜合報告形式任意組合，數據存儲兼容性強

• NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質指定認證儀器

日本型號： MT3300、MT3200、MT3100