Microtrac MRB 雷射粒徑分析儀 S3500系列

作為雷射散射技術研究的先行者,經過近半個世紀的不斷探索,開發出一代又一代先進的雷射粒徑分析儀。全新的S3500系列雷射粒徑分析儀以創新的技術,拓展量測範圍下至0.01μm。它採用現代模組式設計,內置高能量,高穩定性,超長壽命的固體二級管雷射光源。對非球形顆粒的米氏理論修正,保證每一次樣品分析的測量精準度。
詳細介紹

作為雷射散射技術研究的先行者,經過近半個世紀的不斷探索,開發出一代又一代先進的雷射粒徑分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以革新的技術,拓展測試下限至0.01μm。它採用現代模塊式設計,內置高能量,高穩定性,超長壽命的固體二級管激光器。對非球形顆粒的米氏理論修正,保證每一次樣品分析的測量精度。


Microtrac S3500系列產品

藍波2型(BWDL)):濕法測量範圍:0.01-2,800μm;

藍波1型(BWSL)):濕法測量範圍:0.01-2,000μm;

增強型(Enhanced):濕法測量範圍:0.02-2,800μm;

擴展型(eXtended):濕法測量範圍:0.02-2,000μm;

特殊型(speciaL):濕法測量範圍:0.09-1,500μm;

標準型(Standard):濕法測量範圍:0.25-1,500μm;

高端型(High):濕法測量範圍:2.75-2,800μm;

基本型(Basic):濕法測量範圍:0.70-1,000μm;

* 歡迎定制更寬的測量範圍


主要特點:

• Tri-Laser激光系統, 完全消除了不同波長光源對顆粒散射光分佈“連接點”的影響和多次米氏理論(Mie Theory)數學處理的誤差(米氏理論處理與波長有關);

• “Bluewave”激光技術,拓展測量下限至0.01μm;

• 無需掃描,同步接受全量程散射光信號,保證分析結果的高重現性及全量程範圍的高分辨率;

• 引進“非球形”顆粒概念對米氏理論計算的校正因子,內置常用分析物質光學數據庫,提高顆粒粒度分佈測試的準確性;

• 系統自動對光,內置輔助光源用於檢驗和校正檢測器的靈敏度;

• 多種樣品分散系統可供選擇,各種分散系統之間的轉換簡單方便,結果穩定一致;

• 現代模塊式設計,可根據實際應用需要允許選擇儀器的配置,以滿足將來的任何需要;

• 數據處理靈活方便,體積分佈,數量分佈和強度分佈,微分與累計百分比以及其他綜合報告形式任意組合,數據存儲兼容性強;

• NIST(National Institute of Standards & Technology)標準物質指定認證儀器;

日本型號: MT3300、MT3200、MT3100

 

產品參數

測量範圍 0.01μm-2,800μm
測量精度 0.6%
測量時間 10-30 秒
所需樣品量 0.05-2g
兼容性 與任何常用有機溶劑兼容
光源 三束3mW 780nm固體二極管激光器, 電腦控制自動校準
准直功能 電腦控制自動對光
光路 固定光學平台,傅利葉光路結合雙透鏡技術
接受角度 0.02-163°
檢測器 高靈敏矽光電二極管
檢測器數量 151個對數方式優化排列
操作靈活 兼容Windows 98, 2000, NT和XP等操作系統
報告格式 體積,數量和麵積分佈,包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據以ODBC形式輸出兼容其他統計分析軟件和文字
處理軟件安全性 數據的完整性符合21 CFR PART 11 安全要求
環境要求 溫度5-40℃
相對濕度 小於90%
電源要求 90-240 VAC, 5A,50/60Hz
主機尺寸 360H x 560W x 460D mm
標準化 符合ISO 13320-1 激光粒度分析國際標準
完整配置 固定光學平台, 樣品分散系統, 計算機/打印機, 數據處理軟件