Malvern 影像粒徑粒形分析儀 Morphologi G3

Morphologi G3針對從0.5um至1000um的顆粒粒徑及粒形測量提供先進便捷的測量工具。 該儀器可靈活地運用於科研及故障診斷應用,為自動化品質控制分析提供無用戶干預的分析結果與確認。 該技術通常與鐳射衍射技術共同使用,以便更深入地瞭解產品或工藝狀態。
Morphologi G3採用靜態影像分析技術測量顆粒粒徑及粒形。 搭配全自動化粉體樣品分散模組使其成為昂貴耗時的人工顯微測量方法的理想替代品。
詳細介紹

Morphologi G3 機型介紹

Morphologi G3針對從0.5um1000um的顆粒粒徑及粒形測量提供先進便捷的測量工具。 該儀器可靈活地運用於科研及故障診斷應用,為自動化品質控制分析提供無用戶干預的分析結果與確認。 該技術通常與鐳射衍射技術共同使用,以便更深入地瞭解產品或工藝狀態。
Morphologi G3採用靜態影像分析技術測量顆粒粒徑及粒形。 搭配全自動化粉體樣品分散模組使其成為昂貴耗時的人工顯微測量方法的理想替代品。


測量原理
Morphologi G3通過靜態影像分析技術測量顆粒粒徑及粒形。 測量過程包含了三個基本階段;

SDU 粉體自動分散模組

過濾膜直接分析載具, 符合USP788

載玻片上直接使用上光源分析


 獲得良好成像分析的關鍵是對單個顆粒與團聚體進行空間分離。 Morphologi G3 Sample Dispersion Unit整合粉體分散裝置,可輕鬆地對乾粉樣品進行重複備制。 可精確控制分散能量,使測量過程得到優化,滿足不同材料類型測量要求。 不需要很強的能量即可實現顆粒分散,避免破壞易碎顆粒,同時保證能夠分散團聚材料。 還能有效分散纖維材料。
• 通過在顯微光學顯微鏡下掃描樣品,讓顆粒在聚焦範圍內,確保準確捕捉單個顆粒的影像。 Morphologi G3的光源可從下方或上方照射樣品,同時可實現精確控制。 偏振光裝置可用於研究雙折射材料。
• 該儀器可測量每個顆粒的一系列形狀分析。 軟體中先進的圖表與資料分類與篩選選項,通過直觀的介面,確保盡可能直接地從您的測量中選取相關資料。 每個顆粒單獨存儲的灰階影像可為定量結果提供定性驗證。


特點
自動化SOP控制與分析與可確保重複性的結果。
• 高畫質的顯微影像保證準確分析。
• 一體化的乾粉分散系統配有精確的分散控制功能,自動準備好樣品,對易脆材料和團聚材料能進行可重複、可再現測量。
• 作為共用的實驗室資源,先進的人工顯微控制模式可提供更多的價值。
• 直接濾膜上快速分析,實現自動化顆粒計數。
• 直觀強大的軟體介面可使您更容易地對資料進行直觀判定、篩選與統計分析。

產品規格
分析原理 自動靜態顯微成像技術
粒徑分析範圍 0.5 µm – 1000 µm (在某些應用中,測量上限可達到10mm)
粒徑分析數據 等效直徑、長度、寬度、周長、面積、最大距離、等效體積、纖維總長、纖維寬度
粒形分析數據 長寬比、圓度、凸度(粗糙度)、延伸度、高靈敏圓度、纖維延伸度、纖維伸直度
透光度分析數據 灰階平均值、灰階標準差
粉體分散模組 用於乾粉的全自動分散及測量 手動或SOP控制分散壓力、氣壓注入時間以及樣品沉降積時間,使顆粒剪切和顆粒碰撞達到分散
分散氣壓範圍 0.5 – 5 bar +/- 0.1 bar
光源 上光、下光、明場、暗場 、偏光分析選項
偵測器 500 萬畫素 2592 x 1944  CCD; 畫素大小: 2.78μm x 2.78μm
鏡頭組 2.5x (13µm – 1000µm) ; 5x (6.5µm – 420µm) ; 10x (3.5µm – 210µm) ; 20x (1.75µm – 100µm)  ; 50x (0.5µm – 40µm)
樣品載台 X-Y-Z 自動掃描及景深堆疊成像
電力 100-240 V AC@ 50/60 Hz , 5.0 A