詳細介紹
獨家專利 芯片型原子力顯微鏡 (AFM ON A CHIP)技術
將傳統 原子力顯微鏡(AFM)的所有sensor和scanner都集成在一個 1 mm x 1 mm 芯片上，AFM ON A CHIP – nGauge AFM 芯片上的微型scanner和sensor， 尖端位於右上角的懸臂末端，AFM 從未如此簡單：芯片上的 AFM 可實現顯著的小型化和簡化，nGauge AFM 是一種無雷射光系統：集成壓電sensor，可全自動進行無校準操作，讓您更快地收集數據。易於使用的耐用長探頭
nGauge AFM 探頭安裝在大型載體上，使其易於操作和安裝，共兩種 nGauge AFM 探頭可供選擇：用於常規掃描的楔形尖端和用於高解析度掃描的金剛石尖端。 |
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三次點擊，完成3D奈米級的掃瞄建圖
| 1 | 自動掃描 一鍵自動掃頻五秒完成 |
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| 2 | 全自動量測 只需幾秒，一鍵自動完成尖端樣品的量測 |
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| 3 | 快速量測 在一分鐘內完成常規掃描 |
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nGauge 原子力顯微鏡 AFM DataSheet
| 量測原理 | 原子力顯微鏡 Atomic Force Microscope |
| 量測範圍 | XY軸掃描器：20µm x 20 µm (可用拼接完成較大成圖的掃瞄) Z軸掃描器：10 µm 靈敏度：1 µm |
| 執行方式 | 間歇輕敲模式 (Tapping Mode) |
| 量測結果 | 快速掃描：16 秒 128 x 128 像素 常規掃描：80 秒 256 x 256 像素 高解析度： 5 分鐘 512 x 512 像素 最高解析度：20 分鐘 1024 x 1024 像素 |
| 樣品尺寸 | 重量：1kg 高度：20mm 面積：100mm x 50mm 通過修改樣品平台，可容納更高的樣品 |
| 設備需求 | Windows 10 100~240 VAC to 7.5 VDC |