icspi 原子力顯微鏡 - DKSH 大昌華嘉科學儀器

獨家專利 芯片型原子力顯微鏡 (AFM ON A CHIP)技術將傳統 原子力顯微鏡(AFM)的所有sensor和scanner都集成在一個 1 mm x 1 mm 芯片上,AFM ON A CHIP – nGauge AFM 芯片上的微型scanner和sensor, 尖端位於右上角的懸臂末端,AFM 從未如此簡單:芯片上的 AFM 可實現顯著的小型化和簡化,nGauge AFM 是一種無雷射光系統:集成壓電sensor,可全自動進行無校準操作,讓您更快地收集數據。
詳細介紹

獨家專利 芯片型原子力顯微鏡 (AFM ON A CHIP)技術

將傳統 原子力顯微鏡(AFM)的所有sensor和scanner都集成在一個 1 mm x 1 mm 芯片上,AFM ON A CHIP – nGauge AFM 芯片上的微型scanner和sensor, 尖端位於右上角的懸臂末端,AFM 從未如此簡單:芯片上的 AFM 可實現顯著的小型化和簡化,nGauge AFM 是一種無雷射光系統:集成壓電sensor,可全自動進行無校準操作,讓您更快地收集數據。
 

易於使用的耐用長探頭

nGauge AFM 探頭安裝在大型載體上,使其易於操作和安裝,共兩種 nGauge AFM 探頭可供選擇:用於常規掃描的楔形尖端和用於高解析度掃描的金剛石尖端。
 
nGauge AFM 尖端由堅硬、耐用的材料製成,例如碳和氧化鋁等金剛石,可最大限度地延長使用壽命,每個芯片可以進行數百或數千次掃描。

三次點擊,完成3D奈米級的掃瞄建圖

1 自動掃描
一鍵自動掃頻五秒完成
2 全自動量測
只需幾秒,一鍵自動完成尖端樣品的量測
3 快速量測
在一分鐘內完成常規掃描

nGauge 原子力顯微鏡 AFM DataSheet

量測原理 原子力顯微鏡
Atomic Force Microscope
量測範圍 XY軸掃描器:20µm x 20 µm (可用拼接完成較大成圖的掃瞄)
Z軸掃描器10 µm
靈敏度:1 µm
執行方式 間歇輕敲模式 (Tapping Mode)
量測結果 快速掃描:16 秒 128 x 128 像素
常規掃描:80 秒 256 x 256 像素
高解析度: 5 分鐘 512 x 512 像素
最高解析度:20 分鐘 1024 x 1024 像素
樣品尺寸 重量:1kg
高度:20mm
面積:100mm x 50mm
通過修改樣品平台,可容納更高的樣品
設備需求 Windows 10
100~240 VAC to 7.5 VDC