Malvern Mastersizer 3000E 基本型雷射粒徑分析儀

Mastersizer 3000E基本型
•粒徑範圍:0.1um 至 1000µm
•僅限手動分散裝置
•基本軟體,包含更新包和漏洞修補包
•隨時升級至Mastersizer 3000E擴展型的選項

Mastersizer 3000E 擴展型
•支援全自動濕式分散裝置
•包含Mastersizer 3000提供的所有進階軟體功能,包括更新包和自動控制
詳細介紹

Mastersizer 3000E 機型介紹

在產品設計、性能和軟體使用體驗方面,人們普遍認為Mastersizer 3000是市面上的主流雷射粒徑分析儀。 然而,有些應用並不需要Mastersizer 3000所提供的進階功能。 因此,Malvern(馬爾文)公司在Mastersizer產品系列中新推出一款入門級儀器,它以Mastersizer 3000經過證實的產品設計為依據,但僅具保留基本實用性能和軟體功能。

Mastersizer 3000E是一款經濟划算的入門級粒徑分析系統並可根據需要進行升級。 它可提供兩種不同的性能方案:

Mastersizer 3000E 基本型

粒徑範圍:0.1至1000µm,僅限手動分散裝置, 基本軟體包含更新包和漏洞修補包,  隨時升級至Mastersizer 3000E擴展型的選項

Mastersizer 3000E 擴展型

支援全自動濕式分散裝置,包含Mastersizer 3000提供的所有進階軟體功能,包括更新包和自動控制

 
分析原理
Mastersizer 3000E 採用雷射光散射技術(Laser Diffraction Method, ISO13320)測量粒徑。 當雷射光束穿過分散的顆粒樣品時,通過測量散射光的強度來完成粒徑及粒徑分佈測量。 然後資料用於分析計算形成該散射光譜圖的粒徑分佈。
典型的系統由三個主要元件構成:


 光學平臺:分散的樣品穿過光學平臺的測量區,在該測量區,雷射光束照射到顆粒上。 當紅光雷射照射到樣品顆粒時,會在很寬的角度內產生散射,一系列檢測器能夠準確測量顆粒的散射光強。
• 樣品分散裝置: 樣品分散由一系列乾濕法分散裝置控制。 確保顆粒以正確的濃度以及合適穩定的分散狀態傳送至光學平臺的測量區域。
• 儀器軟體: Mastersizer 3000軟體在測量過程中對系統進行控制(自動對焦及背景扣除),並對散射資料進行分析,計算粒徑分佈。 該軟體還可在方法開發過程中提供即時回饋,內建結果品質判斷功能,提供專業建議。


特點
Mastersizer 3000E 是世界上最受推崇使用的粒徑測量儀的最新一代產品。 該儀器各設計階段均融入了專家工程及應用經驗,特點如下:

• 粒徑測量性能領先、體積小巧。
• 專業、直觀的軟體,減輕您的工作負擔。
• 靈活的報告格式,可按需求顯示資料。
• 快速、有效地濕法分散。
• 同時為易脆性乾粉和高聚集性乾粉提供迅速、可靠的粒徑測量。
• 持續Mastersizer數據處理技術秘訣,得出值得您信賴的測量結果。
• 模組化分散器選擇,搭配影像分析系統,提供迅速分析方法建立。
• 隨時升級至Mastersizer 3000全功能分析軟體及0.01um3500um分析範圍


產品規格
分析原理 雷射光散射
分析模型 Mie與Fraunhofer散射
取樣速度 10 kHz
量測時間  <10 秒
分析精確性 / 再現性 優於0.6% / 優於0.5%變異

適用樣品型態
懸液劑、乳劑、乾粉