Malvern 桌上型X光繞射儀 Aeris 研究版

Aeris 研究版提供一應俱全的快速、可靠和準確的材料分析解决方案。監測新合成材料的結晶結構分析,測定藥物中的多態性定性定量分析,還可使用 Aeris 向學生傳授粉末繞射基礎知識。
詳細介紹
機型介紹
Aeris 研究版提供一應俱全的快速、可靠和準確的材料分析解决方案。監測新合成材料的結晶結構分析,測定藥物中的多態性定性定量分析,還可使用 Aeris 向學生傳授粉末繞射基礎知識。







特點
輕鬆觸控,最直觀的X光繞射儀

Aeris 是操作簡單、使用者友善的桌上型X光繞射儀。獨特的觸控用戶介面讓您輕鬆完成樣品的測量過程,且只需要輕點幾下即可為您顯示結果。
1. 放置樣品
2. 選擇測量程序
3. 查看結果






超出預期的卓越性能



Aeris 是完成粉末樣品快速可靠物相鑑別和 Rietveld 定量分析的一把利器。 Aeris 研究版所採用的技術已在 PANalytical 的高端系統上證明了其優勢,因而能夠提供以前只能通過整體落地式系統獲得的分析品質。








理想的教學工具 1D、2D


選配 2D 偵測器,您可用可視方式教授粉末繞射基礎知識。










快速、靈活且永不過時



Aeris 十分靈活,可執行各種粉末繞射測量。此儀器可以容納各種與進樣器配合使用的樣品杯,並可搭配 BTS 500 加熱載台。








對基礎設施的要求最低




無需冷卻水、冷卻器或壓縮空氣 – 僅需一個單相電源插座。








其他配件
檢測器 XRD Detectors
PIXcel1D PIXcel3D
Cu、Co、Fe、Mn、Cr 光源可選擇
0D、1D 測量
Cu、Co、Fe、Mn、Cr 光源可選擇
0D、1D、2D 測量
 
軟體 X-Ray Diffraction Software
HighScore HighScore Plus

全模式物相鑒定方法等

圖譜比對,定性分析等

用於晶體結構分析和更多功能的理想工具

Rietveld 定量分析

搜索匹配參考數據 Search-Match

XRD2DScan
物相鑒定中卓越性能的參考數據庫 XRD2DScan 是 Malvern PANalytical 的軟體包
用於二維繞射數據可視化和
向不同類型一維掃描的轉換


非常溫室 Non-ambient Chambers
BTS 150/500 加熱載台 Benchtop Heating Stages
適用於非常溫 XRD 的經濟高效的配件

X光射線光管 X-Ray Diffraction Tubes
Empyrean Tube
使用立地型 XRD 等級之高功率 Malvern PANalytical 自行研發生產
真2.2kW陶瓷光管,但只操作在 300/600W,
大輻增加了光管的使用壽命