Microtrac MRB STABINO - ZETA 電位分析儀

通過使用 STABINO,可實現快速便捷的粒徑電位滴定測試。
分散體中,同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩定的主要原因,故帶電粒子界面的表徵是必不可少的。當顆粒離子化後,總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。
詳細介紹

ZETA電位分析儀


通過使用 STABINO,可實現快速便捷的粒徑電位滴定測試。
分散體中,同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩定的主要原因,故帶電粒子界面的表徵是必不可少的。當顆粒離子化後,總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。

根據不同的測量原理,有電泳法,電聲法 Zeta 電位,以及 STABINO 測試所得的流動電位。這些是最經常被提到的電位參數,來源於作用在顆粒界面雙電層上離子雲的剪切力,如圖1。所有這些被測變量都與位於剪切面的顆粒界面電位(PIP)即 zeta 電位成正比關係。爲了建立界面電位,要麽通過電泳法或電聲法建立的電場,要麽通過機械應力作用於流動電位和電聲法儀器。通過這樣做,來源於溶液中的外部鬆散附著的離子被帶走,顯露出可被直接測量的界面電位。
 
産品型號:STABINO ZETA
品牌:Microtrac MRB
原産地:德國

儀器簡介:
可實現快速便捷的粒徑的電位滴定測試。在分散體系中,同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩定的主要原因,故帶電粒子界面的表徵是必不可少的。當顆粒離子化後,總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。
根據不同的測量原理,有電泳法,電聲法 Zeta 電位,以及 STABINO 測試所得的流動電位。這些是經常被提到的電位參數,來源於作用在顆粒界面雙電層上離子雲的剪切力,如圖1。所有這些被測變量都與位於剪切面的顆粒界面電位(PIP)即 Zeta 電位成正比關係。爲了建立界面電位,要麽通過電泳法或電聲法建立的電場,要麽通過機械應力作用於流動電位和電聲法儀器。通過這樣做,來源於溶液中的外部鬆散附著的離子被帶走,顯露出可被直接測量的界面電位。

 

電位滴定的目的

根據不同的粒徑區間,可通過 Smoluchowski, Henry’s 等公式計算 Zeta 電位。要想正確的計算 Zeta 電位,粒徑範圍是需要特別注意的。特別是在 100nm 以下的粒徑範圍內,關於 Zeta 電位的正確計算方法,目前學術界還存在著爭議。究竟得到一個絕對的數值對於現實是否必要,這也是存在疑問的。此外,某一個點的 Zeta 電位值幷不能清楚的描述整個樣品體系。界面電位總是依賴於離子環境,嚴格的講,如果沒有所處的離子環境,那麽粒子的界面電位也就無從談起。
 
PH值的微小變化都可能導致顔料懸浮體變的不穩定,儘管它之前的 Zeta 電位很高。因而,深入研究 Zeta 電位對滴定物的滴定曲綫是非常有價值的。這些滴定物質可以是酸鹼性物質,離子型表面活性劑或聚電解質。說到這,很多有價值的結果都可以通過電位滴定得到,有的可用於識別懸浮液的穩定和不穩定區域,有的用於表徵導致聚合或顆粒反應的凝聚劑或催化劑的用量。


 

測量流動電流電位

通過驅動活塞在圓筒中做上下往復運動(如圖2),圓筒壁和活塞間隙中的液體會上下發生流動。作用在固定顆粒界面上的剪切力,會導致顆粒的離子雲發生轉移。這些固定的顆粒,有的是因爲大分子或小顆粒對器壁的粘附,有的是因爲大顆粒的惰性所致。在樣品底部平靜的區域,幾乎沒有離子的位移。因而,就可以獲取到圓筒底部和較高部位的振蕩信號。
 

多功能

流動電位測試法所適用粒徑範圍,表明流動電位是最通用的方法,0.3nm 的大分子溶液和 300μm 的顆粒懸浮液或乳液都可以用流動電位法來測定。該方法允許的導電性範圍從零至 50mS/cm,樣品濃度範圍從 0.01 至或更高。粘度的上限爲 300mPas。在此粘度下,將滴定液混入樣品的有效性是存在問題的。除了樣品和滴定液的濃度外,無需其他樣品參數。最後但同樣重要的是,如果 zeta 電位是非常重要的,在許多 應用中,流動電位乘以常數因子就可以校正爲 Zeta 電位。
 

流動電位用於電荷滴定的高效

STABINO 在一台儀器上具備了混和,均化和信號測試的功能,使其滴定測試更爲簡單有效。通常一個典型的滴定循環需要 5-15 分鐘。
 

産品參數

 電位適合的粒度範圍  0.3nm-300μm
電位的測量範圍  -3000mV to +3000mV
pH測量範圍  1-14
樣品濃度  0.01-40 vol.%