詳細介紹
產品介紹
CAMSIZER M1 是適合用於精細的粉末的全自動靜態圖像分析儀,採用靜態圖像分析的測量原理,測定 0.5 μm 至 1500 μm 範圍內的粒徑和顆粒形狀,分析儀的基於功能強大的顯微鏡,其硬體軟屉體都針對自動顆影像分析進行了優化。對於靜態影像分析(根據 ISO 13322-1),樣品需要放置在物體載玻片或其他載體上,並由自動樣品台移動,接著由 18.1 兆像素相機逐步拍攝,樣品在影像採集過程中保持靜止,從而確保影像的高品質和豐富細節。
多達六種不同的放大倍率和位置精度小於 3 μm 的精確樣品台確保了整個測量範圍內的最佳測量條件,此配置可滿足各種顆粒大小和形狀參數,Particle X-Plorer 軟體協助隨後顯示和分析每個記錄的顆粒。
- 0.5 μm 至 1500 μm 的高解析度的靜態圖像分析 (ISO 13322-1)
- 18.1 百萬像素彩色相機
- 最多 6 倍放大
- 精確分析非常小的顆粒
- 出色的圖像品質
- 高精度形狀分析
- 分散模組 M-Jet
- 自動測量,操作簡單
- 拼接功能
- 使用 Particle X-Plorer 進行綜合評估
CAMSIZER M1 使用靜態影像分析原理來確定 0.5 µm 至 1500 µm 測量範圍內的顆粒尺寸和顆粒形狀,帶有樣品材料的載玻片沿相機系統逐步移動,該相機系統每次移動獲取一個圖像,樣品可以是乾的或濕的(粉末或懸浮液),與動態圖像分析相比,樣品在測量過程中是靜止的,因此,顆粒圖像更能擁有清晰且豐富的細節。
在每次測量開始時,顆粒大小/顆粒形狀分析儀 CAMSIZER M1 確定測量區域的焦平面,以確保所選區域中的所有顆粒圖像都是銳利的(傾斜補償),所有影像和測量數據都可以在分析過程中存儲,為使用 Particle X-Plorer 模塊進行後續數據評估提供多種可能性。測量完成後,概覽影像可讓用戶很好地了解顆粒品質,通過使用創新的拼接算法,可以將跨越多個測量區域的顆粒畫面拼湊在一起,因此儘管它們的尺寸大於 1500 微米,仍可以進行分析。
在每次測量開始時,顆粒大小/顆粒形狀分析儀 CAMSIZER M1 確定測量區域的焦平面,以確保所選區域中的所有顆粒圖像都是銳利的(傾斜補償),所有影像和測量數據都可以在分析過程中存儲,為使用 Particle X-Plorer 模塊進行後續數據評估提供多種可能性。測量完成後,概覽影像可讓用戶很好地了解顆粒品質,通過使用創新的拼接算法,可以將跨越多個測量區域的顆粒畫面拼湊在一起,因此儘管它們的尺寸大於 1500 微米,仍可以進行分析。
用於靜態影像分析的高效樣品製備
任何樣品分析都與樣品的前處理息息相關,因此Microtrac開發了模組M-Jet 以確保在使用 CAMSIZER M1 進行測量前,乾粉能均勻分佈和有效分散。
新型分散裝置 M-Jet 可確保在各種載台上進行最佳樣品製備,以進行靜態的影像分析,此模組原理基於負壓,無需壓縮空氣供應,由於獨特的噴嘴幾何形狀,即使是最細的粉末也能有效分離並均勻分佈在目標板上。
M-Jet 的優點:
任何樣品分析都與樣品的前處理息息相關,因此Microtrac開發了模組M-Jet 以確保在使用 CAMSIZER M1 進行測量前,乾粉能均勻分佈和有效分散。
新型分散裝置 M-Jet 可確保在各種載台上進行最佳樣品製備,以進行靜態的影像分析,此模組原理基於負壓,無需壓縮空氣供應,由於獨特的噴嘴幾何形狀,即使是最細的粉末也能有效分離並均勻分佈在目標板上。
M-Jet 的優點:
- 負壓分散 10 kPa – 70 kPa
- 各種分散噴嘴
- 可存儲 8 個 SOP
- 通過觸摸板和控制旋鈕進行舒適的操作
CAMSIZER® X2 DataSheet
量測原理 | 靜態顆粒影像分析儀 Static Image Analysis (ISO 13322-1) |
量測範圍 | 0.5 µm - 1500 µm |
適用方式 | 乾、濕式分析 |
量測結果 | 18.1 百萬像素影像 |
量測時間 | ~ 5 到 60 分鐘(取決於樣品類型和測量統計數據) |
設備資訊 | 搭配倍鏡 標準:2.5x 5x 10x 20x 50x 可選:1.25x 或 100x 機器重量: 約45公斤 |