Microtrac MRB SYNC 粒徑分析儀

-動態影像分析(ISO 13322)、雷射繞射技術(ISO 13320)
-乾式與濕式粒徑分析系統
-測量範圍:0.01 至 4000 微米
詳細介紹

SYNC 雷射粒徑分析儀

SYNC 粒徑分析儀為 Microtrac MRB 所推出的一款粒徑分析儀設備,結合了靜態雷射繞射技術(Laser Diffraction)與動態圖像分析技術(Dynamic Image Analysis,DIA),提供相較以往更精準的粒徑分析結果,如:顆粒大小及形狀,可廣泛應用於研究與化工、製藥、食品等各工業領域。

產品特色

  • 具備兩種分析技術-靜態雷射繞射技術(Laser Diffraction)與動態圖像分析(Dynamic Image Analysis,DIA)技術
  • 高速攝影機-測量時利用高速相機進行拍攝,即時提供顆粒大小、樣貌及型態相關信息
  • 自動清洗-可確保粒徑分析儀不會殘留樣品
  • 測量時間極短-通常僅需 30 秒即可完成
  • 測量範圍廣-可進行 0.01 至 4000 微米的顆粒尺寸和形狀的粒徑分析
  • 快速切換測量系統-允許在乾式粒徑分析與濕式粒徑分析系統間快速轉換
  • 系統操作簡單-Flex 軟體功能強大,介面直觀容易使用

適用於每個行業的最佳方案-兩種分析技術與測量系統一次擁有

該款粒徑分析儀提供研究與產業中最常使用的靜態雷射繞射技術,並結合動態圖像分析技術,不僅提高粒徑分析的整體準確性,還可測量顆粒形狀。SYNC 雷射粒徑分析儀擁有乾式粒徑分析系統與濕式粒徑分析系統,且只需一次移動即可輕鬆轉換,不再需要反覆的拆除及連接。

FLOWSYNC:濕式粒徑分析系統

FLOWSYNC為濕式測量系統,主要用於測量微細粉末及懸浮物體的粒徑分佈,能夠精準測量極小的粒子。

TURBOSYNC:乾式粒徑分析系統

TURBOSYNC為乾式測量系統,主要用於測量較大粒子的粒徑分佈,不需繁複的樣本準備過程,且能應對固體粒子的不規則形狀。

相關產品

粒徑分析儀能夠精準地測量物體的顆粒大小分佈,有助於深入理解產品在不同粒徑下所呈現的不同品質與性能。粒徑分析儀的測量技術分別有雷射光繞射法、動態圖像分析法及動態及動態光散射法,以下為提供不同測量技術的粒徑分析儀設備:

型號 SYNC NANOTRAC FLEX CAMSIZER X2
示意圖
 

測量範圍 微米(0.1µm - 4000µm) 奈米(0.3nm - 10µm) 微米 (0.8µm - 8mm)
測量技術 雷射光繞射法
​動態圖像分析法
動態光散射法(DLS) 動態圖像分析法
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應用領域

產品詳情

品牌
Microtrac MRB
產品型號 SYNC
原產地 美國/德國
測量範圍 0.01-4000um
準確性 ±0.6%
雷射器 780nm 紅色固體雷射器,405nm 藍色固體雷射器
檢測系統 實時檢測,151 個檢測單元呈對視形式排列
檢測角度 0.02-163°
典型分析時間 10-30秒
粒形分析 5M像素(2560×2048)
濕式進樣系統 內腔容積:200ml(更多分散容積可選);流動速率:0-65ml/sec
乾式進樣系統 最大分散壓力:100psi(689kpa)
符合標準 ISO13320(雷射繞射法)和ISO13322(動態圖像分析法)
電源要求 90~264VAC,47 - 63Hz
環境要求 溫度:5-40°;濕度:最大90%;儲藏溫度:-10-50°
外觀尺寸 46H x 82W x 50D cm