Epsilon 4-螢光光譜儀_快速、準確的原位元素分析

由於較低的基礎設施要求,可以將 Epsilon 4 放到生產過程中靠近生產線的任意位置。 其高性能使大多數應用能夠在環境條件下運行,從而降低氦氣或真空維護的成本。
詳細介紹

 

Epsilon 4

WDXRF螢光光譜儀
快速、準確的原位元素分析

Epsilon 4 潤滑油

在保證產品品質的同時加快發動機測試速度是對於潤滑油生產商來說非常重要、必須達到的行業要求。 符合 ASTM D7751 和 ASTM D6481和 ISO 等國際測試方法是進行潤滑油元素分析的基本行業要求。

通過積極的材料鑒定,減少生產錯誤
更快、更準確地分析昂貴的添加劑的劑量 
支援基油和添加劑的最佳混合效率

Epsilon 4 製藥和化妝品

Epsilon 4 是一種能量色散式 X 射線螢光 (EDXRF) 臺式光譜儀,可對賦型劑和活性藥物成分中的雜質進行非破壞性的元素分析,符合 ICH Q3D、USP<232>、USP<233> 和 USP<735> 的建議。

執行傳統上由 ICP 和 AAS 執行的應用現在成為可能,而無需耗費時間、成本高昂的樣品製備。


Epsilon 4 食品與環境


Epsilon 4 能量色散式 X 射線螢光 (EDXRF) 光譜儀是一種強大的分析工具,可獲得有用的元素資訊。
Epsilon 4 用於控制動物飼料中的養分,保證牛群健康,最大程度地減少糞便產生的溫室氣體。
根據 ISO 18227、ISO 15309 和 ASTM C1255 的規定,對土壤和肥料進行分析,改善生長條件,確保不出現有毒元素。

Epsilon 4 建築材料

X 射線螢光光譜儀 (XRF) 在水泥業發揮著重要且完善的分析作用。 廣泛用於原材料、替代燃料和最終成品元素分析的生產和品質控制,通過高品質、低成本的元素分析提升您的流程效率。
 
X 射線螢光光譜儀 (XRF) 在水泥業發揮著重要且完善的分析作用。 與 Eagon 2 全自動熔融系統相結合,Epsilon 4 僅需 10 分鐘即可符合 ASTM C114-15 和 ISO 29581-2 的最新水泥測試方法。

Epsilon 4 礦業和礦產

X 射線螢光光譜儀 (XRF) 在礦業和礦產業發揮著重要且完善的分析作用。 廣泛用於勘探、等級控制和工藝監控,確保廢棄物組成符合環境標準和法規的限制範圍。 

在採礦作業中利用 Epsilon 4 臺式光譜儀,即使在偏遠地區也可對礦石、礦物和岩石進行快速的元素分析。 將低基礎設施需求和高分析性能相結合,可快速確定公用事業設備有限的採礦地區的運營策略。 
通過將臺式 XRF 光譜儀放置在礦場或加工廠旁邊,探索 XRF 分析的可能性,並將您的回饋時間從幾小時縮短到幾分鐘。

Epsilon 4 石油和燃油

使用 Epsilon 4,最多可在石油和燃油生產中節省 190,000 歐元的成本。 在提供合規、可重複和準確的元素分析的同時,在煉油作業的不同部分帶來附加價值:
對原油進行元素分析,優化和調整煉油廠工藝流程。確定低水準的氯,達到最佳的脫鹽和腐蝕控制。確定低水準的 S、Ni、V、Ca 和 Fe,延長催化劑壽命,提高其性能 ,分析燃料生產與混合期間的硫含量。

Epsilon 4 進行的分析符合國際測試方法如 TIER 3、ISO 13032、ISO 20847、ISO 8754、ASTM D4294、ASTM D4929、JIS K2541-4、IP 336 和 IP 496。
 

快速、準確的原位元素分析

借助 XRF 光譜儀 Epsilon 3 系列的成功經驗打造,Epsilon 4 是一款多功能儀器,廣泛用於從研發到流程控制等各個領域中,需要從氟 (F) 到鋂 (Am) 元素分析的所有行業細分市場。 Epsilon 4 將最新的激發和檢測技術與成熟軟體和智慧設計相結合,其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光譜儀。
Epsilon 4 任意位置
由於較低的基礎設施要求,可以將 Epsilon 4 放到生產過程中靠近生產線的任意位置。 其高性能使大多數應用能夠在環境條件下運行,從而降低氦氣或真空維護的成本。

超越分析的價值

能量色散式 X-射線螢光光譜儀可分析從碳 (C) 到鋂 (Am) 的元素,涵蓋從百萬分之一以下到 100 wt% 的濃度。 
將 Omnian 用於無標分析,當需要快速分析鑒定時,則使用 FingerPrint 來進行材料測試,或者使用 Stratos 來對塗層、表面層和多層結構進行快速、簡單和非破壞性的分析。 還可以使用支援與 FDA 21 CFR 第 11 部分等法規合規的增強的資料安全性,或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新潤滑油和使用過的潤滑油。

支持所有種類的樣品

Epsilon 4 可處理多種樣本類型,包括固體、壓片和疏鬆粉末、液體和濾膜。 在重量從幾毫克到幾千克的樣品上,對從碳 (C) 氟到鋂 (Am) 的元素進行非破壞性的定量分析,涵蓋從 100% 到百萬分之一以下的濃度範圍。 
Epsilon 4 是穩健、可靠的傳統系統替代方案,已在許多行業和應用領域中得到廣泛應用,甚至在輕元素分析最為重要的環境中,包括:水泥生產、採礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、RoHS 篩選及定量、石油和石化、聚合物及相關行業、玻璃生產、法醫學、 
製藥、保健產品、環保、食品和化妝品。

特點:

靈活的配置

Epsilon 4 是高度靈活的分析工具,可在 10 瓦版本中用於從研發到程序控制等各個領域的元素分析 (F - Am)。 要實現更高的樣品處理量或擴展的輕元素功能,並且處於更加具有挑戰性的環境,可以使用 15 瓦版本,甚至可以對碳、氮和氧進行分析。

最新發展

Epsilon 4 儀器將最新的射線發生和探測技術與頂尖的分析軟體結合到了一起。 15 瓦 X 射線管與大電流 (3 mA)、最新的矽漂移探測器 SDD30 以及緊湊的光路設計相結合,提供了甚至超過 50 瓦功率 EDXRF 系統以及臺式 WDXRF 系統的分析性能 - 同時還額外提高了能源利用效率

迅速、敏感

利用可生成更高強度的最新矽漂移探測器技術實現迅速測量。 
獨特的探測器電路提供的線性計數率可超過 1,500,000 cps(在 50% 的死時間下),和計數率無關的解析度通常高於 135 eV,可更好地分離光譜中的分析譜線。 這使得 Epsilon 4 光譜儀能夠以全功率運行,因此與傳統的 EDXRF 臺式儀器相比,實現了更高的樣品通量。

降低氦氣消耗量

Epsilon 4 的高性能使得許多應用可以在空氣環境中運行,無需較長的進樣時間和費用來維護氦氣或真空系統。 在空氣中測量時,鈉、鎂和鋁的低能量 X 射線光子對氣壓和溫度變化很敏感。 內置溫度和氣壓感測器可補償這些大氣變化,確保在任何氣候下結果都不受影響。

樣品處理 X 射線管 檢測器 軟體
具備 10 個位置的可移動樣品交換器 穩定性最高的金屬陶瓷側窗 高解析度矽漂移探測器 (SDD),通常為 135 eV @ Mn-Kα 通過 Omnian 無標分析解決方案,進行元素篩選
光譜儀最多可容納直徑 52 毫米(2 英寸)的樣品 50 微米薄鈹窗,對輕元素高度敏感(Na、Mg、Al、Si) 最大計數率 1,500,000 c/s(在 50% 的死時間下) 通過 FingerPrint 解決方案,進行合格/不合格分析
包含自旋器,以提高空氣濾清器分析的準確性 Ag 陽極 X 射線光管,獲得 P、S 和 Cl 分析的最佳性能 薄入探測器射窗,高靈敏度 在監管環境下,增強資料安全性
大樣品模式最大可分析高 10 cm 的較大樣品     用於多層樣品的 Stratos
      使用 Oil-Trace,在新潤滑油和使用過的潤滑油中對磨損金屬進行靈活校準

技術規格:

測量 Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
元素範圍 C-Am
解析度 (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
樣品處理量 80per 8h day - 160per 8h day
技術類型 Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)